KS C 6045-2002
MÉTODOS DE PRUEBA PARA DIODOS RECTIFICADORES SEMICONDUCTOR

Estándar No.

KS C 6045-2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

KS C 6045-2002

KS C 6045-2002 Historia

• 2002 KS C 6045-2002 MÉTODOS DE PRUEBA PARA DIODOS RECTIFICADORES SEMICONDUCTOR
• 0000 KS C 6045-1991(2001)
• 1986 KS C 6045-1986 MÉTODOS DE PRUEBA PARA DIODOS RECTIFICADORES SEMICONDUCTOR