CEI EN 60749-4:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

Estándar No.
CEI EN 60749-4:2017
Fecha de publicación
2017
Organización
Comitato Elettrotecnico Italiano
Ultima versión
CEI EN 60749-4:2017
 
Introducción
Este documento proporciona métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores. La cuarta parte se centra en pruebas húmedo-calor estáticas y aceleradas (HAST), que son cruciales para evaluar la resistencia a condiciones ambientales extremas. Estos procedimientos permiten a los fabricantes garantizar el rendimiento y la fiabilidad de sus productos bajo diversas condiciones de operación.

CEI EN 60749-4:2017 Historia

  • 2017 CEI EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

estándares y especificaciones

GSO IEC 60749-4:2014 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST) DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST) DS/EN 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST) IEC 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST) IEC 60749-4:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST) EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST) DIN EN 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST) (IEC KS C IEC 60749-4:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST). NF C96-022-4*NF EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST).


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