DS/EN 60749-4:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

Estándar No.

DS/EN 60749-4:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Danish Standards Foundation

Estado

ser reemplazado 2003-12

Remplazado por

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

Ultima versión

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

Alcance

Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de estrés de temperatura y humedad (HAST) altamente acelerada con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos.

DS/EN 60749-4:2003 Historia

• 2004 DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
• 2003 DS/EN 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

estándares y especificaciones