ESD DS5.3.1:2007
Estándar para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas – Modelo de dispositivo cargado (CDM) – Nivel de componente

Estándar No.
ESD DS5.3.1:2007
Fecha de publicación
2007
Organización
Electrostatic Discharge Association (ESDA)
Estado
 2010-02
Remplazado por
ESD DS5.3.1:2009
Ultima versión
ESD DS5.3.1:2009
 
Introducción
Este estándar establece un método sistemático para evaluar la sensibilidad a la descarga electrostática de componentes electrónicos a nivel de componente. Se centra en la simulación de condiciones reales que pueden afectar la integridad de los dispositivos electrónicos. El estándar describe cómo se debe realizar la prueba utilizando un modelo específico que representa la forma en que los dispositivos pueden ser afectados por descargas electrostáticas. Además, proporciona criterios para interpretar los resultados obtenidos durante las pruebas. El objetivo principal es garantizar que los dispositivos cumplan con ciertos niveles de resistencia ante este tipo de fenómenos. El estándar también incluye procedimientos detallados para la calibración de los equipos utilizados en el proceso de prueba.

ESD DS5.3.1:2007 Historia

  • 2009 ESD DS5.3.1:2009 Modelo de dispositivo cargado (CDM): nivel de componente
  • 2007 ESD DS5.3.1:2007 Estándar para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas – Modelo de dispositivo cargado (CDM) – Nivel de componente

Temas especiales sobre estándares y normas

Nivel de sensibilidad a la descarga electrostática Nivel de sensibilidad estática Preamplificador sensible a la carga Nivel estándar de prueba de transmisor antiestático

estándares y especificaciones

ANSI/ESD STM5.3.1-1999 ESD STM5.3.1-1999 para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas: nivel de componente del modelo de dispositivo cargado (CDM ESD ANSI/ESD S5.3.1-2009 Nivel de componente del modelo de dispositivo cargado (CDM ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022 Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas: modelo de dispositivo cargado (CDM) Nivel de dispositivo DIN EN 60749-28 E:2012-07 Métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 28: Ensayo de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) Modelo DIN EN IEC 60749-28:2024-12*VDE 0884-749-28:2024-12 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos NF EN 60749-28:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo ESD SP5.3.3-2018 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Prueba del modelo de dispositivo cargado (CDM): nivel de componente CDM de contacto de baja impedancia AEC Q100-011D Prueba de descarga electrostática (ESD) del modelo de dispositivo cargado (CDM ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 Prueba de sensibilidad ESD Modelo de cuerpo humano (HBM) Nivel de componente


© 2025 Reservados todos los derechos.