GB/T 43661-2024
Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Definición y calibración de la resolución espacial de la microscopía de sonda de barrido eléctrica (ESPM, como SSRM y SCM) para aplicaciones como imágenes de dopantes 2D (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 43661-2024
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2024
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB/T 43661-2024
 

Introducción
Esta norma proporciona definiciones y métodos de calibración para la resolución espacial en microscopías electroestáticas de punta escaneada (ESPM), incluyendo técnicas como la microscopia de resonancia de estado sólido (SSRM) y la microscopia conductiva (SCM). Estas tecnologías son esenciales para el análisis químico superficial, especialmente en la visualización bidimensional de dopantes. La norma cubre aspectos técnicos necesarios para garantizar la precisión y consistencia en la recopilación de datos utilizando estas técnicas avanzadas.

GB/T 43661-2024 Historia

  • 2024 GB/T 43661-2024 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Definición y calibración de la resolución espacial de la microscopía de sonda de barrido eléctrica (ESPM, como SSRM y SCM) para aplicaciones como imágenes de dopantes 2D

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