SAE J1752/1-1997 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados: procedimientos de medición de emc de circuitos integrados: general y definición
Esta práctica recomendada por SAE proporciona información de respaldo para los procedimientos de medición de emisiones e inmunidad definidos en SAE J1752. El campo magnético cercano de la radiación electromagnética de un circuito integrado se puede medir de una manera controlada que produce resultados repetibles. Estas emisiones están relacionadas con el potencial de radiación electromagnética de campo lejano del CI y del módulo electrónico del que forma parte. La intención es proporcionar una medida cuantitativa de las emisiones de RF de los circuitos integrados para fines de comparación u otros fines. Se están investigando medidas cuantitativas similares de la inmunidad de un CI a transitorios y campos de RF.
SAE J1752/1-1997 Historia
2021SAE J1752/1-2021 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados - Generalidades y definiciones
2016SAE J1752/1-2016 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados - Generalidades y definiciones
2006SAE J1752/1-2006 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados: procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados: generales y definiciones
1997SAE J1752/1-1997 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados: procedimientos de medición de emc de circuitos integrados: general y definición