SAE J1752/1-2006
Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados: procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados: generales y definiciones

Estándar No.

SAE J1752/1-2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Society of Automotive Engineers (SAE)

Estado

Remplazado por

SAE J1752/1-2016

Ultima versión

SAE J1752/1-2021

Alcance

Esta práctica recomendada por SAE proporciona información de respaldo para los procedimientos de medición de emisiones e inmunidad definidos en la serie de documentos SAE J1752.

SAE J1752/1-2006 Historia

• 2021 SAE J1752/1-2021 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados - Generalidades y definiciones
• 2016 SAE J1752/1-2016 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados - Generalidades y definiciones
• 2006 SAE J1752/1-2006 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados: procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados: generales y definiciones
• 1997 SAE J1752/1-1997 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados: procedimientos de medición de emc de circuitos integrados: general y definición

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