OS GSO IEC 60410:2013
Planes de muestreo y procedimientos para inspección por atributos

Estándar No.

OS GSO IEC 60410:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

The Directorate General of Specifications and Metrology (DGSM)

Ultima versión

OS GSO IEC 60410:2013

Introducción

Este documento proporciona directrices para el desarrollo de planes y procedimientos de muestreo basados en atributos. Se utiliza en diversos contextos industriales para garantizar la calidad mediante la selección adecuada de muestras según características específicas.

*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.

OS GSO IEC 60410:2013 Historia

• 2013 OS GSO IEC 60410:2013 Planes de muestreo y procedimientos para inspección por atributos

estándares y especificaciones