MIL MIL-PRF-19500/706A-2005
DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, ENDURECIDO POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR, CANAL N, SILICIO, TIPOS 2N7497T2, 2N7498T2 Y 2N7499T2, JANTXVR Y JANSR (SUPERDIENDO A MIL-PRF-19500/706)

Estándar No.
MIL MIL-PRF-19500/706A-2005
Fecha de publicación
2005
Organización
Military Standards (MIL-STD)
Estado
Remplazado por
MIL MIL-PRF-19500/706B-2010
Ultima versión
MIL MIL-PRF-19500/706C-2015
 

Introducción

El estándar MIL-PRF-19500/706A-2005, publicado el 21 de enero de 2005, establece los requisitos para los transistores de efecto de campo (FET) de tipo N, específicamente los modelos 2N7497T2, 2N7498T2 y 2N7499T2, en sus versiones JANTXVR y JANSR. Estos dispositivos semiconductores están diseñados para aplicaciones que requieren una alta resistencia a la radiación, tanto en términos de dosis total como de efectos de partículas individuales (Single Event Effects, SEE).

El documento detalla las especificaciones técnicas, los métodos de prueba y los criterios de aceptación necesarios para garantizar que estos transistores cumplan con los estándares de rendimiento y confiabilidad en entornos de radiación intensa. Esto es crucial para su uso en sistemas de defensa y aeroespaciales, donde la integridad del componente es fundamental para la misión.

Además, el estándar incluye directrices para la fabricación, inspección y entrega de estos dispositivos, asegurando que los procesos de producción estén alineados con los requisitos militares. La versión JANTXVR indica que los transistores han pasado pruebas adicionales de confiabilidad, mientras que la versión JANSR se refiere a dispositivos que cumplen con los requisitos estándar pero no han sido sometidos a pruebas adicionales.

MIL MIL-PRF-19500/706A-2005 Historia

  • 2015 MIL MIL-PRF-19500/706C-2015 Transistor, efecto de campo, canal N endurecido por radiación, silicio, tipos 2N7497T2, 2N7498T2, 2N7499T2 y 2N7561T2 JANTXVR y JANSR
  • 2010 MIL MIL-PRF-19500/706B-2010 Transistor, efecto de campo, canal N endurecido por radiación, silicio, tipos 2N7497T2, 2N7498T2, 2N7499T2 y 2N7561T2 JANTXVR y JANSR
  • 2005 MIL MIL-PRF-19500/706A-2005 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, ENDURECIDO POR RADIACIÓN DE EFECTO DE CAMPO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR, CANAL N, SILICIO, TIPOS 2N7497T2, 2N7498T2 Y 2N7499T2, JANTXVR Y JANSR (SUPERDIENDO A MIL-PRF-19500/706)
  • 2002 MIL MIL-PRF-19500/706-2002 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR EFECTO DE CAMPO RADIACIÓN ENDURECIDO (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TRANSISTOR DE SILICIO DE CANAL N TIPO 2N7497T2 2N7498T2 2N7499T2 JANTXVR JANSR (S/S POR MIL-PRF-19500/706A)

estándares y especificaciones

MIL MIL-PRF-19500/741B-2018 Dispositivo semiconductor, efecto de campo, matriz de transistor endurecida por radiación (dosis total y efectos de evento único), canal N y canal P, silicio MIL MIL-PRF-19500/741A-2009 Dispositivo semiconductor, efecto de campo, matriz de transistor endurecida por radiación (dosis total y efectos de evento único), canal N y canal P, silicio MIL MIL-PRF-19500/683-2001 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE UN SOLO EVENTO) TIPO 2N7467U2, JANTXVR, F,G MIL MIL-PRF-19500/683B-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE UN SOLO EVENTO) TIPO 2N7467U2, JANTXVR, F, G MIL MIL-PRF-19500/684-2000 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TIPOS 2N7472U2 MIL MIL-PRF-19500/684B-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), TIPOS 2N7472U2 MIL MIL-PRF-19500/684A-2003 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TIPOS 2N7472U2 MIL MIL-PRF-19500/752A-2017 Dispositivo semiconductor, transistor de efecto de campo, canal N, endurecido por radiación (dosis total y efectos de evento único), silicio de nivel lógico MIL MIL-PRF-19500/684D-2007 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), TIPOS 2N7472U2



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