GJB 762.3A-2018 Métodos de prueba para el endurecimiento por radiación de dispositivos semiconductores. Parte 3: Prueba de irradiación instantánea gamma. (Versión en inglés)
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
Ultima versión
GJB 762.3A-2018
GJB 762.3A-2018 Historia
2018GJB 762.3A-2018 Métodos de prueba para el endurecimiento por radiación de dispositivos semiconductores. Parte 3: Prueba de irradiación instantánea gamma.
1989GJB 762.3-1989 Método de prueba de endurecimiento por radiación del dispositivo semiconductor γ prueba de irradiación instantánea