GJB 762.3-1989
Método de prueba de endurecimiento por radiación del dispositivo semiconductor γ prueba de irradiación instantánea (Versión en inglés)

Estándar No.

GJB 762.3-1989

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1989

Organización

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Estado

ser reemplazado 2019-03

Remplazado por

GJB 762.3A-2018

Ultima versión

GJB 762.3A-2018

GJB 762.3-1989 Historia

• 2018 GJB 762.3A-2018 Métodos de prueba para el endurecimiento por radiación de dispositivos semiconductores. Parte 3: Prueba de irradiación instantánea gamma.
• 1989 GJB 762.3-1989 Método de prueba de endurecimiento por radiación del dispositivo semiconductor γ prueba de irradiación instantánea