ASTM F1844-97(2016)
Práctica estándar para medir la resistencia laminar de conductores de película delgada para la fabricación de pantallas planas utilizando un medidor de corrientes de Foucault sin contacto

Estándar No.

ASTM F1844-97(2016)

Fecha de publicación

2016

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Ultima versión

ASTM F1844-97(2016)

Alcance

1.1 Esta práctica describe métodos para medir la resistencia eléctrica de las láminas de películas conductoras delgadas pulverizadas depositadas sobre grandes sustratos aislantes (vidrio o plástico), utilizadas en la fabricación de pantallas informativas de paneles planos. 1.2 Esta práctica está destinada a usarse con los métodos de prueba F673. Esta práctica pertenece a un procedimiento de medición "manual" en el que un operador coloca el cabezal de medición en la muestra de prueba y luego activa personalmente el aparato de prueba. El operador puede tabular los datos de prueba resultantes o, alternativamente, enviarlos a un sistema de registro de datos basado en computadora. Ambos Métodos I y II de los Métodos de prueba F673 (párrafos 3.1 al 3.3.3 de los Métodos de prueba F673) son aplicables a esta práctica. 1.3 Esta práctica puede medir la resistividad de la lámina en el rango de 0,020 a 3000 Ω por cuadrado (la conductancia de la lámina en el rango de 3 por 10–4 a 50 mhos por cuadrado). Se supone que la resistencia de la lámina es uniforme en el área que se está probando. NOTA 1: las unidades de prueba manuales típicas, como se describe en esta práctica, miden e informan en las unidades "mhos por cuadrado"; esto es lo inverso de "ohmios por cuadrado". 1.4 Esta práctica es aplicable únicamente a superficies planas. 1.5 Esta práctica no es destructiva. Puede usarse en paneles de producción para ayudar a asegurar la uniformidad de la producción. 1.6 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.7 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F1844-97(2016) Documento de referencia

• ASTM F673 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad de rodajas de semiconductores o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes de Foucault sin contacto

ASTM F1844-97(2016) Historia

• 2016 ASTM F1844-97(2016) Práctica estándar para medir la resistencia laminar de conductores de película delgada para la fabricación de pantallas planas utilizando un medidor de corrientes de Foucault sin contacto
• 1997 ASTM F1844-97(2008) Práctica estándar para medir la resistencia laminar de conductores de película delgada para la fabricación de pantallas planas utilizando un medidor de corrientes de Foucault sin contacto
• 1997 ASTM F1844-97(2002) Práctica estándar para medir la resistencia laminar de conductores de película delgada para la fabricación de pantallas planas utilizando un medidor de corrientes de Foucault sin contacto
• 1997 ASTM F1844-97 Práctica estándar para medir la resistencia laminar de conductores de película delgada para la fabricación de pantallas planas utilizando un medidor de corrientes de Foucault sin contacto