IEC 60444-1:1986
Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 1: método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red
- Estándar No.
- IEC 60444-1:1986
- Fecha de publicación
- 1986
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- 2008-01
- Remplazado por
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- Ultima versión
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- Alcance
- Especifica un método simple de medición y describe una red de medición adecuada. El método de medición y la red son adecuados para su uso en el rango de frecuencia de 1 MHz a 200 MHz. El circuito de medición consta básicamente de una red conectada con co
IEC 60444-1:1986 Historia
- 1999 IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red - Parte 1: Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; Enmienda
- 1986 IEC 60444-1:1986 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 1: método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red
