IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red - Parte 1: Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; Enmienda
- Estándar No.
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- Fecha de publicación
- 1999
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- Reemplazar
- IEC 49/442/FDIS:1999
- Alcance
- Esta es la Enmienda 1 a IEC 60444-1-1986 (Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi Parte 1: Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi)
IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Historia
- 1999 IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red - Parte 1: Método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; Enmienda
- 1986 IEC 60444-1:1986 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 1: método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red
