GB/T 20229-2022 (Versión en inglés)

Alcance: Este documento especifica la marca, los requisitos técnicos, los métodos de prueba, las reglas de inspección, el marcado, el embalaje, el transporte, el almacenamiento, los documentos adjuntos y el formulario de pedido del monocristal de fosfuro de galio. Este documento es aplicable a la producción de lingotes monocristalinos de fosfuro de galio y láminas de molienda monocristalinas de fosfuro de galio para dispositivos optoelectrónicos, microelectrónicos y acústico-ópticos.

GB/T 20229-2022 Documento de referencia

GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 14844 Designaciones de materiales semiconductores.
GB/T 1555 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor*， 2023-08-06 Actualizar
GB/T 2828.1-2012 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)
GB/T 4326 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
GB/T 6618 Método de prueba para el espesor y la variación del espesor total de rodajas de silicio.
GB/T 6620 Método de prueba para medir la deformación en rodajas de silicio mediante escaneo sin contacto
GB/T 6621 Métodos de prueba para determinar la planitud de la superficie de rodajas de silicio.
GB/T 6624 Método estándar para medir la calidad superficial de láminas de silicio pulidas mediante inspección visual