GB/T 20229-2006 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 20229-2006
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2006
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado: 2022-10
Remplazado por: GB/T 20229-2022
Ultima versión: GB/T 20229-2022

Alcance: Esta norma especifica los grados, requisitos técnicos, métodos de prueba, reglas de inspección, señales, embalaje, transporte, almacenamiento, etc. de lingotes y obleas individuales de fosfuro de galio de tipo n no dopado, dopado con S y dopado con Te. Esta norma se aplica a los materiales monocristalinos de fosfuro de galio (en adelante, monocristales) preparados mediante el método Czochralski de sellado líquido a alta presión (HP-LEC).

GB/T 20229-2006 Documento de referencia

GB/T 1550 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.*， 2018-12-28 Actualizar
GB/T 1555 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor*， 2023-08-06 Actualizar
GB/T 4326 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall*， 2006-07-18 Actualizar
GB/T 6618 Método de prueba para el espesor y la variación del espesor total de rodajas de silicio.*， 2009-10-30 Actualizar
GJB 3076 Especificación de chip único de fosfuro de galio