Esta norma especifica la clasificación de productos, requisitos técnicos, métodos de prueba, reglas de inspección, señales, embalaje, transporte y almacenamiento de monocristales de silicio. Esta norma se aplica a los monocristales de silicio preparados mediante el método Czochralski y el método de fusión en zona de suspensión (incluido el dopaje por transmutación de neutrones), y los productos se utilizan principalmente para la producción de componentes semiconductores.