GB/T 12962-2005 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 12962-2005
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2005
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado: 2017-01
Remplazado por: GB/T 12962-2015
Ultima versión: GB/T 12962-2015
Reemplazar: GB/T 12962-1996

Alcance: 1.1 Esta norma especifica la clasificación de productos, la terminología, los requisitos técnicos, los métodos de prueba, las reglas de inspección, el marcado, el embalaje, el transporte y el almacenamiento de monocristales de silicio. 1.2 Esta norma es aplicable a los productos preparados por Czochralski y al dopaje por transmutación de neutrones de fusión en zona de levitación, que se utilizan principalmente para fabricar componentes semiconductores.

GB/T 12962-2005 Documento de referencia

GB/T 1550 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.*， 2018-12-28 Actualizar
GB/T 1551 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristalino: método de sonda de cuatro puntos en línea y método de sonda de dos puntos de corriente continua*， 2021-05-21 Actualizar
GB/T 1552 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas
GB/T 1553 Determinación de la vida útil de los portadores minoritarios en silicio y germanio mediante el método de desintegración de la fotoconductividad*， 2023-08-06 Actualizar
GB/T 1554 Método de prueba para la perfección cristalográfica del silicio mediante técnicas de grabado preferencial.*， 2009-10-30 Actualizar