IEC 62007-2:1997
Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.

Estándar No.

IEC 62007-2:1997

Fecha de publicación

1997

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 62007-2/AMD1:1998

Ultima versión

IEC 62007-2:2009

Reemplazar

IEC 86/113/FDIS:1997 IEC 60747-5:1992 IEC 60747-5 AMD 1:1994

Alcance

Esta parte de IEC 62007 describe los métodos de medición aplicables a los dispositivos optoelectrónicos semiconductores que se utilizarán en el campo de los sistemas y subsistemas de fibra óptica.

IEC 62007-2:1997 Historia

• 2009 IEC 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
• 1999 IEC 62007-2:1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
• 1998 IEC 62007-2/AMD1:1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición; Enmienda 1
• 1997 IEC 62007-2:1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.

IEC 62007-2:1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición. ha sido cambiado a IEC 60747-5:1992 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos y circuitos integrados; parte 5: dispositivos optoelectrónicos.