IEC 62007-2:1999
Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
- Estándar No.
- IEC 62007-2:1999
- Fecha de publicación
- 1999
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- Remplazado por
- IEC 62007-2:2009
- Ultima versión
- IEC 62007-2:2009
- Alcance
- Esta parte de IEC 62007 describe los métodos de medición aplicables a los dispositivos optoelectrónicos semiconductores que se utilizarán en el campo de los sistemas y subsistemas de fibra óptica.
IEC 62007-2:1999 Historia
- 2009 IEC 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
- 1999 IEC 62007-2:1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
- 1998 IEC 62007-2/AMD1:1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición; Enmienda 1
- 1997 IEC 62007-2:1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
