IEC 60300-3-7:1999
Gestión de la confiabilidad - Parte 3-7: Guía de aplicación - Detección de estrés de confiabilidad del hardware electrónico

Estándar No.

IEC 60300-3-7:1999

Fecha de publicación

1999

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

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Ultima versión

IEC 60300-3-7:1999

Remplazado por

IEC 61163-2:1998

Alcance

Esta parte de IEC 60300 sirve como guía de aplicación para un proceso de evaluación de estrés de confiabilidad para hardware electrónico. Se explica el concepto, finalidad y justificación del proceso de selección. Se establecen los elementos principales de un programa de detección, junto con el procedimiento de planificación general. Esta norma pretende ser una guía y debe usarse junto con una de las normas de evaluación de estrés de confiabilidad de IEC ("herramientas" en el concepto de caja de herramientas), a las que se hace referencia en la cláusula 15, según el nivel de aplicación del proceso de evaluación. Esta norma brinda orientación en los casos en los que es esencial eliminar las fallas tempranas de los artículos fabricados para poder entregarlos al cliente cuando se resuelvan los problemas que causan las fallas tempranas. La norma también brinda orientación sobre dónde se debe llevar a cabo la evaluación del estrés de confiabilidad, es decir, a nivel de componente, nivel de subsistema o nivel de sistema (ver figura 1), y también se puede utilizar cuando se incluyen pasos para reducir el riesgo de fallas tempranas en un contrato. Esta norma está dirigida al personal del departamento de contratación, gestión de proyectos, desarrollo de productos, gestión de procesos, producción, control de calidad y compras.

IEC 60300-3-7:1999 Historia

• 1999 IEC 60300-3-7:1999 Gestión de la confiabilidad - Parte 3-7: Guía de aplicación - Detección de estrés de confiabilidad del hardware electrónico

IEC 60300-3-7:1999 Gestión de la confiabilidad - Parte 3-7: Guía de aplicación - Detección de estrés de confiabilidad del hardware electrónico ha sido cambiado a IEC 61163-2:1998 Detección de estrés de confiabilidad - Parte 2: Componentes electrónicos.

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