JIS C 5750-3-7:2003
Gestión de la confiabilidad - Parte 3-7: Guía de aplicación - Evaluación del estrés de confiabilidad del hardware electrónico
- Estándar No.
- JIS C 5750-3-7:2003
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Ultima versión
- JIS C 5750-3-7:2003
- Alcance
- Esta norma internacional proporciona pautas para la aplicación de procesos de evaluación de estrés de confiabilidad para hardware electrónico.
JIS C 5750-3-7:2003 Historia
- 2003 JIS C 5750-3-7:2003 Gestión de la confiabilidad - Parte 3-7: Guía de aplicación - Evaluación del estrés de confiabilidad del hardware electrónico
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
IEC 60300-3-7:1999 Gestión de la confiabilidad - Parte 3-7: Guía de aplicación - Detección de estrés de confiabilidad del hardware electrónico
BS IEC 60300-3-7:1999 Gestión de confiabilidad - Guía de aplicación - Guía de aplicación - Detección de estrés de confiabilidad del hardware electrónico
KS A IEC 60300-3-7:2003 de confiabilidad－Parte 3: Guía
GSO IEC 61163-1:2014 Evaluación de tensiones de confiabilidad - Parte 1: Conjuntos reparables fabricados en lotes
IEC 61163-1:2006 Evaluación de tensiones de confiabilidad - Parte 1: Conjuntos reparables fabricados en lotes
BS EN 61163-1:2006 Evaluación de tensiones de confiabilidad - Parte 1: Conjuntos reparables fabricados en lotes
BS 5760-16.1:1996 Fiabilidad de sistemas, equipos y componentes - Guía para la detección de tensiones - Artículos reparables fabricados en lotes
DS/EN 61163-1:2007 Evaluación de tensiones de confiabilidad - Parte 1: Conjuntos reparables fabricados en lotes
IEC TR 62878-2-7:2019 Tecnología de ensamblaje de incrustación de dispositivos. Parte 2-7: Directrices. Pruebas de tensión aceleradas de placas de circuitos integrados pasivos