Toggle navigation
Normas y Especificaciones
BS IEC 60747-14-1:2001
Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Dispositivos semiconductores - Sensores semiconductores - Generalidades y clasificación - Generalidades de sensores y clasificación para sensores semiconductores
Inicio
BS IEC 60747-14-1:2001
Estándar No.
BS IEC 60747-14-1:2001
Fecha de publicación
2001
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
ser reemplazado
2010-04
Remplazado por
BS IEC 60747-14-1:2010
Ultima versión
BS IEC 60747-14-1:2010
Reemplazar
98/232612 DC:1998
Alcance
Describe elementos generales relacionados con las especificaciones de los sensores.
BS IEC 60747-14-1:2001 Historia
2010
BS IEC 60747-14-1:2010
Dispositivos semiconductores - Sensores semiconductores - Especificación genérica para sensores
2001
BS IEC 60747-14-1:2000
Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Dispositivos semiconductores. Sensores semiconductores-General y clasificación-Generales de sensores y clasificación para sensores semiconductores
Temas especiales sobre estándares y normas
Clasificación de archivos de empresas de semiconductores
semiconductor de banda prohibida
semiconductor de brecha
Clasificación de sensores electroquímicos.
Equipos semiconductores
Instrumentos semiconductores
Equipos semiconductores
Instrumentos semiconductores
Semiconductor+Nitrógeno+
sensor de conductividad
Sensor de conductividad+
sensor de conductividad
estándares y especificaciones
GSO IEC 60748-4-1:2013 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 4: Circuitos integrados de interfaz - Sección 1: Especificación detallada en blanco
IEC 60749-17:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones
DIN EN 60749-8:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); Versión alemana
GSO IEC 60747-14-5:2015 Dispositivos semiconductores - Parte 14-5: Sensores semiconductores - Sensor de temperatura semiconductor de unión PN
DS/EN 60749-8+Corr.2:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado
IEC PAS 62166:2000 Directrices para la notificación a los usuarios de cambios de productos/procesos por parte de proveedores de semiconductores
KS C IEC 60749-32:2006 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos
KS C IEC 60749-22:2004 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 22: Fuerza de unión
KS C IEC 60749-31:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente
© 2025 Reservados todos los derechos.