JIS C 6115-1:2006
Reglas generales de los módulos pin-FET

Estándar No.
JIS C 6115-1:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Ultima versión
JIS C 6115-1:2006
Alcance
Este estándar especifica elementos comunes generales como terminología, símbolos, clasificación, clasificaciones máximas y rendimiento para módulos pin-FET.

JIS C 6115-1:2006 Documento de referencia

  • JIS C 0025 Procedimientos básicos de pruebas ambientales Parte 2: Pruebas Prueba N: Cambio de temperatura
  • JIS C 60068-2-1 Pruebas ambientales - Parte 2-1: Pruebas - Prueba A: Frío*2010-02-22 Actualizar
  • JIS C 60068-2-2 Pruebas ambientales - Parte 2-2: Pruebas - Prueba B: Calor seco*2010-02-22 Actualizar
  • JIS C 60068-2-3 Procedimientos básicos de prueba ambiental Parte 2: Pruebas, Prueba Ca: Calor húmedo, estado estacionario
  • JIS C 6115-2 Métodos de medición de módulos pin-FET

JIS C 6115-1:2006 Historia




© 2023 Reservados todos los derechos.