JIS C 6115-2:2006
Métodos de medición de módulos pin-FET

Estándar No.
JIS C 6115-2:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Ultima versión
JIS C 6115-2:2006
Alcance
Esta norma especifica métodos para medir las características eléctricas y ópticas de los módulos pin-FET.

JIS C 6115-2:2006 Documento de referencia

  • JIS C 1102-1 Instrumentos de medida eléctricos analógicos indicadores de acción directa y sus accesorios. Parte 1: Definiciones y requisitos generales comunes a todas las partes.*2007-08-20 Actualizar
  • JIS C 6115-1 Reglas generales de los módulos pin-FET

JIS C 6115-2:2006 Historia




© 2023 Reservados todos los derechos.