GB/T 4589.1-2006
Dispositivos semiconductores. Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 4589.1-2006
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2006
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
- GB/T 4589.1-2006
- Reemplazar
- GB/T 4589.1-1989
- Alcance
- Esta especificación forma parte del Sistema de Evaluación de Calidad de Componentes Electrónicos (IECQ) de la Comisión Electrotécnica Internacional. Esta especificación es una especificación general para dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados, incluidos los circuitos integrados multichip, pero excluidos los circuitos híbridos). Esta especificación especifica el procedimiento general para la evaluación de la calidad que se utilizará dentro del sistema IECQ y proporciona principios generales para: ——métodos de prueba para características eléctricas; ——pruebas climáticas y mecánicas; ——pruebas de durabilidad.
GB/T 4589.1-2006 Historia
- 2006 GB/T 4589.1-2006 Dispositivos semiconductores. Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
- 1989 GB/T 4589.1-1989 ¡Dispositivos semiconductores!*Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
