GB/T 4589.1-1989
¡Dispositivos semiconductores!*Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 4589.1-1989
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1989
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2007-02
- Remplazado por
- GB/T 4589.1-2006
- Ultima versión
- GB/T 4589.1-2006
- Alcance
- Esta especificación es aplicable a los circuitos integrados semiconductores (en adelante denominados dispositivos), en la que se especifican los procedimientos generales para la evaluación de la calidad de los dispositivos, y se dan los principios generales a seguir en las siguientes pruebas y ensayos: Prueba de características eléctricas; Prueba climática y mecánica; Test de durabilidad. La especificación detallada en blanco es un complemento de esta especificación. Para un tipo particular de dispositivo, su especificación detallada y esta especificación constituyen los requisitos completos para la calidad del dispositivo.
GB/T 4589.1-1989 Historia
- 2006 GB/T 4589.1-2006 Dispositivos semiconductores. Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
- 1989 GB/T 4589.1-1989 ¡Dispositivos semiconductores!*Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
