IEC 60749-11:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
- Estándar No.
- IEC 60749-11:2002
- Fecha de publicación
- 2002
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- Remplazado por
- IEC 60749-11:2002/COR1:2003
- Ultima versión
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- Reemplazar
- IEC 47/1535A/CDV:2000 IEC 47/1605/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62185:2000
- Alcance
- Esta parte de IEC 60749 define el método de prueba de cambio rápido de temperatura y el método de dos baños de fluido. Cuando ambos métodos de prueba se realizan como parte de la calificación de un dispositivo, los resultados de los ciclos de temperatura aire a aire tienen prioridad sobre este método de prueba de dos baños de fluidos. Este método de prueba también se puede utilizar, empleando menos ciclos (por ejemplo, de 5 a 10 ciclos), para probar el efecto de la inmersión en líquidos calentados que se utilizan para limpiar dispositivos. Esta prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores. Se considera destructivo a menos que se detalle lo contrario en la especificación correspondiente. En general, esta prueba de cambio rápido de temperatura y método de baño de dos fluidos cumple con la norma IEC 60068-2-14 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.
IEC 60749-11:2002 Historia
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos; Corrección 2
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
- 2002 IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
IEC 60749:1984 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos.
IEC 60749:1996 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
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IEC 60749:2002 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
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IEC 60749-23:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
IEC 60749-42:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 42: Almacenamiento de temperatura y humedad.
IEC 60749-15:2010 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.
IEC 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
IEC 60749-15:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.
IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.