DIN EN 62047-3:2007
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
- Estándar No.
- DIN EN 62047-3:2007
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 62047-3:2007-02
- Ultima versión
- DIN EN 62047-3:2007-02
- Reemplazar
- DIN IEC 62047-3:2004
DIN EN 62047-3:2007 Documento de referencia
- IEC 62047-2 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 2: Método de prueba de tracción de materiales de película delgada
- ISO 17561 Cerámicas finas (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada) - Método de ensayo de módulos elásticos de cerámicas monolíticas a temperatura ambiente mediante resonancia sónica*， 2016-07-01 Actualizar
DIN EN 62047-3:2007 Historia
- 2007 DIN EN 62047-3:2007-02 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
- 2007 DIN EN 62047-3:2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
- 0000 DIN IEC 62047-3:2004
