(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
Esta norma es aplicable a las pruebas de vida útil de dispositivos semiconductores montados en conductores destinados a aplicaciones en un entorno enfriado por aire natural donde la mayor parte (>90 %) de la disipación de potencia se obtiene por convección y pérdidas por radiación del cuerpo del dispositivo.