(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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JEDEC JEP123-1995
Alcance
La caracterización de los parámetros del modelo para cables de paquetes de semiconductores ha sido notoria por la falta de repetibilidad del modelado y de las pruebas entre sitios. Esta falta de repetibilidad ha sido causada menos por la inexactitud de la instrumentación de prueba básica, sino más por la falta de condiciones uniformes en los dispositivos de prueba y por la diversidad de métodos aplicados. Por lo tanto, la intención de la metodología de prueba prescrita por esta guía es garantizar la reproducibilidad de condiciones de prueba uniformes que se utilizarán en varios sitios de prueba. Como las condiciones de prueba influyen en los valores de los parámetros eléctricos, deben, en gran medida, emular el entorno de aplicación en el que finalmente se utilizan los dispositivos semiconductores.
JEDEC JEP123-1995 Historia
1995JEDEC JEP123-1995 Directrices para la medición de parámetros del modelo de inductancia y capacitancia de paquetes electrónicos