IEC 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
Esta parte de GB/T 22319 especifica un dispositivo de medición que puede medir con precisión la frecuencia resonante, la resistencia resonante y los parámetros del circuito equivalente de componentes de cristal de cuarzo montados en superficie sin plomo. El método de medición adopta IEC 60444-4:1988 e IEC 60444-5: Tecnología de fase cero especificada en 1995. El circuito equivalente y el rango de frecuencia aplicable utilizando este dispositivo de medición se indican en las siguientes cláusulas. Además, esta norma también se aplica a las carcasas de componentes de cristal sin cables según IEC 61240:1994. El circuito equivalente y los parámetros eléctricos del dispositivo se midieron según las normas IEC 60444-1:1986 e IEC 60444-4:1988. El rango de capacitancia de carga es de 10 pF o superior. Esta norma también especifica la calibración del sistema de medición y la pieza C. Esta sección es adecuada para medir dispositivos que pueden medir con precisión la frecuencia resonante, la resistencia resonante, la capacitancia paralela C, la capacitancia dinámica C y la inductancia dinámica L de componentes de cristal de cuarzo. Su rango de frecuencia es de 1MHz ~ 150MHz, utilizando medición automática basada en IEC 60444- 5: 1995. Analizador de redes.
IEC 60444-8:2003 Historia
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2003IEC 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie