IEC 60444-8:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 60444 describe accesorios de prueba adecuados para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie sin cables en recintos como se define en IEC 61837 (todas las partes). Estos dispositivos permiten medir la frecuencia de resonancia (en serie), la resistencia de resonancia (en serie) y los parámetros de circuito eléctrico equivalente L1, C1 y C0 utilizando las técnicas de medición especificadas en IEC 60444-5 y para la determinación de la frecuencia de resonancia de carga y la resistencia de resonancia de carga. según IEC TR 60444-4 e IEC 60444-11. En este documento se describen dos dispositivos de prueba: 1) Un dispositivo que utiliza el circuito de red con valores eléctricos como se describe en IEC 60444-1 para mediciones en modo de transmisión de hasta 500 MHz. Este dispositivo incluye medios opcionales para agregar condensadores de carga física para la medición de parámetros de resonancia de carga de hasta 30 MHz de acuerdo con IEC 60444-4. El rango de capacitancia de carga es de 10 pF o más. La calibración del sistema de medición y la placa adaptadora CL se explica a continuación. 2) Un dispositivo basado en el método de reflexión, adecuado para un rango de frecuencia de hasta 1200 MHz. No se prevén disposiciones para agregar una capacitancia de carga física. Los parámetros de resonancia de carga se pueden medir utilizando el método de IEC 60444-11.

IEC 60444-8:2016 Documento de referencia

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2016 IEC 60444-8:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
2003 IEC 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie