CSN 35 8763-1973
Dispositivos semiconductores. Diodos. ¿Medida o? tensión de ruptura inversa

Estándar No.
CSN 35 8763-1973
Fecha de publicación
1973
Organización
CZ-CSN
Estado
Ultima versión
CSN 35 8763-1973
 
Alcance
Procesador: Tesla Ro?nov, empresa registrada. Ro?nov pod Radho?t, ¿responsable? trabajador - Ing. Václav Sehnalík Trabajador del equipo de normalización y medición: Ing. Václav Prosr

CSN 35 8763-1973 Historia

  • 1973 CSN 35 8763-1973 Dispositivos semiconductores. Diodos. ¿Medida o? tensión de ruptura inversa

Temas especiales sobre estándares y normas

Tensión de ruptura del dispositivo semiconductor Tensión de ruptura de dispositivos semiconductores. Prueba de tensión de ruptura de dispositivo semiconductor electrodo de ruptura de voltaje

estándares y especificaciones

IEEE PC62.35/D1, April 2018 Borrador de métodos de prueba estándar aprobados por IEEE para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión IEEE Std C62.35-2010 Métodos de prueba estándar IEEE para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalanchas CNS 5764-1980 Regulador de voltaje Diodo Ruido Medición de voltaje IEEE C62.42.3-2017 Guía para la aplicación de componentes de protección contra sobretensiones en dispositivos y puertos de equipos de protección contra sobretensiones. Parte 3 IEEE PC62.42.3/D3, December 2016 Borrador de guía aprobado por IEEE para la aplicación de componentes de protección contra sobretensiones en dispositivos y puertos de equipos de protección IEEE Std C62.42.3-2017 Guía IEEE para la aplicación de componentes de protección contra sobretensiones en puertos de equipos y dispositivos de protección contra sobretensiones - Parte IEEE PC62.42.3/D2, October 2016 Borrador de guía aprobado por IEEE para la aplicación de componentes de protección contra sobretensiones en dispositivos y puertos de equipos de protección ANSI/IEEE C62.35:2010 Métodos de prueba estándar para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalancha IEEE Std C62.35-2010/Cor 1-2018 (Corrigendum to IEEE Std C62.35-2010 Métodos de prueba estándar IEEE para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalanchas - Corrigendum 1


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