IRAM 2152-1962
MAQUINAS SINCR?NICAS Rendimiento y Regulación.

Estándar No.
IRAM 2152-1962
Fecha de publicación
1956
Organización
AR-IRAM
Ultima versión
IRAM 2152-1962
 
Alcance
B-l Esta norma ertablece los métodos para determinar las pérdidas y cal-cular el rendimiento y la regulación de las máquinas sincrónicas, sin licita-ción de tensión, intensidad ni frecuencia,

IRAM 2152-1962 Historia

estándares y especificaciones

JIS C 4906:1991 sincronías NC 34-48-1987 Maquinaria y Elementos Agrícolas. Máquinas Forestales y Agrícolas. Evaluación Energética. Metodología para su implementación BS DD CLC/TS 50131-7:2003 Sistemas de alarma - Sistemas de intrusión - Directrices de aplicación DD CLC/TS 50131-7-2003 Sistemas de alarma - Sistemas de intrusión - Parte 7: Directrices de aplicación MIL MIL-PRF-19500/683-2001 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE UN SOLO EVENTO) TIPO 2N7467U2, JANTXVR, F,G MIL MIL-PRF-19500/683B-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE UN SOLO EVENTO) TIPO 2N7467U2, JANTXVR, F, G MIL MIL-PRF-19500/684-2000 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TIPOS 2N7472U2 MIL MIL-PRF-19500/684B-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), TIPOS 2N7472U2 MIL MIL-PRF-19500/684A-2003 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO) TIPOS 2N7472U2


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