ASTM F528-99(2005)
Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión

Estándar No.

ASTM F528-99(2005)

Fecha de publicación

1999

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

 2011-06

Ultima versión

ASTM F528-99(2005)

Alcance

La ganancia actual de un transistor es básica para su funcionamiento y es su parámetro más importante. La radiación ionizante, es decir, la radiación gamma debida a una explosión nuclear, degradará la ganancia de corriente debido al daño de por vida en el material a granel. La degradación de la ganancia será mayor inmediatamente después de una explosión de radiación ionizante y la ganancia se recuperará rápidamente hasta un valor casi estable. El recocido de defectos puede continuar durante semanas, pero normalmente la recuperación de la ganancia actual es pequeña o insignificante. Este método proporciona un procedimiento que no requiere equipo de prueba especial. Este método es adecuado para su uso en la aceptación de especificaciones, evaluación de servicios o control de fabricación.1.1 Este método de prueba cubre la medición de la ganancia de corriente CC del emisor común (directa, hFE o invertida, hFEI) de transistores bipolares, para los cuales el colector- La corriente de fuga del emisor, ICEO, es inferior al 10% de la corriente del colector, IC, a la que se realizará la medición, y para la cual la corriente de fuga en derivación en el circuito base es inferior al 10% de la corriente base requerida. 1.2 Este método de prueba es adecuado para medir la ganancia de corriente CC del emisor común en un único valor dado de la corriente del colector del transistor de prueba o en un rango determinado de corrientes del colector (por ejemplo, en el rango del transistor que se va a probar). 1.2.1 Los rangos nominales de corriente del colector sobre los cuales se pretende utilizar los tres circuitos de prueba son los siguientes: 1.2.1.1 Circuito 1, menos de 100 [mu]A, 1.2.1.2 Circuito 2, a partir de 100 [mu]A a 100 mA, y 1.2.1.3 Circuito 3, mayor a 100 mA. 1.3 Este método de prueba incorpora pruebas para determinar si la potencia disipada en el transistor es lo suficientemente baja como para que la temperatura de la unión sea aproximadamente la misma que la temperatura ambiente. 1.4 Los valores indicados en el Sistema Internacional de Unidades (SI) deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad de quien utilice esta norma consultar y establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones regulatorias antes de su uso.

ASTM F528-99(2005) Historia

• 1999 ASTM F528-99(2005) Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión
• 1999 ASTM F528-99 Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión