1.1 Este método de prueba cubre la medición de la ganancia de corriente CC del emisor común (directa, hFE o invertida, hFEI) de transistores bipolares, para los cuales la corriente de fuga colector-emisor, ICEO, es inferior al 10 % de la corriente del colector, IC. , en el que se realizará la medición, y para el cual la corriente de fuga en derivación en el circuito base es inferior al 10% de la corriente base requerida. 1.2 Este método de prueba es adecuado para medir la ganancia de corriente CC del emisor común en un único valor dado de la corriente del colector del transistor de prueba o en un rango determinado de corrientes del colector (por ejemplo, en el rango del transistor que se va a probar). 1.2.1 Los rangos nominales de corriente del colector sobre los cuales se pretende utilizar los tres circuitos de prueba son los siguientes: 1.2.1.1 Circuito 1, menos de 100 [mu]A, 1.2.1.2 Circuito 2, a partir de 100 [mu]A a 100 mA, y 1.2.1.3 Circuito 3, mayor a 100 mA. 1.3 Este método de prueba incorpora pruebas para determinar si la potencia disipada en el transistor es lo suficientemente baja como para que la temperatura de la unión sea aproximadamente la misma que la temperatura ambiente. 1.4 Los valores indicados en el Sistema Internacional de Unidades (SI) deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad de quien utilice esta norma consultar y establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones regulatorias antes de su uso.
ASTM F528-99 Historia
1999ASTM F528-99(2005) Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión
1999ASTM F528-99 Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión