ASTM E431-96(2002)
Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados

Estándar No.
ASTM E431-96(2002)
Fecha de publicación
1996
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Estado
Remplazado por
ASTM E431-96(2007)
Ultima versión
ASTM E431-96(2022)
Alcance
1.1 Esta guía proporciona ilustraciones de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados. Los transistores de baja potencia (a través de la configuración de caja TO-11), diodos, rectificadores de baja potencia, dispositivos de potencia y circuitos integrados se ilustran con características de ensamblaje comunes. Se presentan áreas particulares de construcción para estos dispositivos que detallan puntos críticos de diseño o ensamblaje. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hubiera, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E431-96(2002) Historia

  • 2022 ASTM E431-96(2022) Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados
  • 1996 ASTM E431-96(2016) Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados
  • 1996 ASTM E431-96(2011) Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados
  • 1996 ASTM E431-96(2007) Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados
  • 1996 ASTM E431-96(2002) Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados
  • 1996 ASTM E431-96 Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados



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