DIN EN 61193-2:2008
Sistemas de evaluación de la calidad - Parte 2: Selección y uso de planes de muestreo para la inspección de componentes y paquetes electrónicos (IEC 61193-2:2007); Versión alemana EN 61193-2:2007

Estándar No.

DIN EN 61193-2:2008

Fecha de publicación

2008

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Remplazado por

DIN EN 61193-2:2008-08

Ultima versión

DIN EN 61193-2:2008-08

Reemplazar

VDIN IEC 61193-2-2005

DIN EN 61193-2:2008 Documento de referencia

• IEC 60194 *， 2015-04-01 Actualizar
• ISO 2859-1:1999 Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por el límite de calidad de aceptación (AQL) para la inspección lote por lote
• ISO 3534-2:2006 Estadística - Vocabulario y símbolos - Parte 2: Estadística aplicada

DIN EN 61193-2:2008 Historia

• 2008 DIN EN 61193-2:2008-08 Sistemas de evaluación de la calidad - Parte 2: Selección y uso de planes de muestreo para la inspección de componentes y paquetes electrónicos (IEC 61193-2:2007); Versión alemana EN 61193-2:2007
• 2008 DIN EN 61193-2:2008 Sistemas de evaluación de la calidad - Parte 2: Selección y uso de planes de muestreo para la inspección de componentes y paquetes electrónicos (IEC 61193-2:2007); Versión alemana EN 61193-2:2007