EN 60749-6:2002
Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura
Inicio
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2002
Organización
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Estado
Remplazado por
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2017
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Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
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Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura
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