GB/T 22319.8-2008 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 22319.8-2008
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2008
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 22319.8-2008

Alcance: Esta parte de GB/T 22319 especifica los dispositivos de medición que pueden medir con precisión la frecuencia resonante, la resistencia resonante y los parámetros del circuito equivalente de componentes de cristal de cuarzo de montaje superficial sin plomo. Los métodos de medición adoptan la tecnología de fase cero IEC 60444-4-1988 e IEC 60444-5 especificada en 1995. Consulte las siguientes cláusulas para conocer el circuito equivalente y el rango de frecuencia aplicable utilizando este dispositivo de medición. Además, esta sección también se aplica a los gabinetes con elementos de cristal sin cables en IEC 61240-1994. El circuito equivalente y los parámetros eléctricos del dispositivo de medición se basan en IEC 60444-1-1986 e IEC 60444-4-1988. El rango de capacitancia de carga es de 10 pF o superior. Esta parte también especifica la calibración del sistema de medición y el C-chip. Esta parte es aplicable a dispositivos de medición que pueden medir con precisión la frecuencia resonante, la resistencia resonante, la capacitancia paralela C, la capacitancia dinámica C y la inductancia dinámica L de componentes de cristal de cuarzo. El rango de frecuencia es de 1MHz a 150MHz. Analizador de redes.

GB/T 22319.8-2008 Documento de referencia

IEC 60444-1:1986 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 1: método básico para la medición de la frecuencia de resonancia y la resistencia de resonancia de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red
IEC 60444-2:1980 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red; parte 2: método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
IEC 60444-5:1995 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo - Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de analizador automático de redes y corrección de errores
IEC 61240:1994 Dispositivos piezoeléctricos - Elaboración de esquemas de dispositivos de superficie (SMD) para control y selección de frecuencia - Reglas generales

2008 GB/T 22319.8-2008 Medición de los parámetros de la unidad de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.