DIN 51003:2004
Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones

Alcance: Esta norma especifica definiciones de métodos analíticos con los que se identifican elementos y se determinan sus concentraciones mediante mediciones de emisión de rayos X o fluorescencia. El propósito de esta norma es establecer definiciones para TXRF y hacerlas coincidir con definiciones relacionadas con las diversas áreas del análisis espectral atómico óptico: espectrometría de emisión óptica (OES), espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de fluorescencia atómica (AFS).

DIN 51003:2004 Documento de referencia

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0000 DIN 51003:2001