BS EN 62433-2:2010
Modelado EMC IC - Modelos de circuitos integrados para simulación de comportamiento EMI - Modelado de emisiones conducidas (ICEM-CE)

Estándar No.
BS EN 62433-2:2010
Fecha de publicación
2010
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
Remplazado por
BS EN 62433-2:2017
Ultima versión
BS EN 62433-2:2017
Reemplazar
07/30163156 DC-2007
 

Alcance
Esta parte de IEC 62433 especifica macromodelos para circuitos integrados para simular emisiones electromagnéticas conducidas en una placa de circuito impreso. El modelo se denomina comúnmente Modelo de Emisión de Circuito Integrado - Emisión Conducida (ICEM-CE). El modelo ICEM-CE también se puede utilizar para modelar un chip IC, un bloque funcional y un bloque de propiedad intelectual (IP). El modelo ICEM-CE se puede utilizar para modelar circuitos integrados tanto digitales como analógicos.

BS EN 62433-2:2010 Documento de referencia

  • IEC 61967 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 8: Medición de emisiones radiadas - Método IC stripline*2023-05-03 Actualizar
  • IEC 61967-4 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Parte 4: Medición de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo de 1 ohm/150 ohm.*2021-03-16 Actualizar

BS EN 62433-2:2010 Historia

  • 2017 BS EN 62433-2:2017 Modelado de circuitos integrados EMC. Modelos de circuitos integrados para simulación del comportamiento EMI. Modelización de emisiones conducidas (ICEM-CE)
  • 2010 BS EN 62433-2:2010 Modelado EMC IC - Modelos de circuitos integrados para simulación de comportamiento EMI - Modelado de emisiones conducidas (ICEM-CE)

estándares y especificaciones




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