JIS K 0190:2010
Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Estándar No.
JIS K 0190:2010
Fecha de publicación
2010
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Ultima versión
JIS K 0190:2010
 
Introducción
Este estándar proporciona una guía sobre el análisis de puntos de calidad utilizando el método de espectroscopía de rayos X de dispersión de longitud de onda, en el contexto de la microanálisis con un microscopio electrónica de proyección. Se detalla el procedimiento para la obtención de datos espectrales, la interpretación de los resultados y las condiciones experimentales necesarias para garantizar la precisión y la repetibilidad del análisis. Además, se incluyen recomendaciones sobre la calibración de los equipos, la preparación de las muestras y la evaluación de los errores asociados al método. El texto aborda aspectos técnicos relacionados con la aplicación del método en diversos campos de investigación y desarrollo.

JIS K 0190:2010 Documento de referencia

  • ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

JIS K 0190:2010 Historia

  • 2010 JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Temas especiales sobre estándares y normas

Microanálisis espectral espectro de análisis microscópico Microespectroscopia sondas de rayos x y electrones Análisis de rayos X con sonda electrónica.

estándares y especificaciones

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