ISO 17470:2004
Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Estándar No.
ISO 17470:2004
Fecha de publicación
2004
Organización
International Organization for Standardization (ISO)
Estado
Remplazado por
ISO 17470:2014
Ultima versión
ISO 17470:2014
 
Alcance
Este estándar es un método estándar para identificar elementos y confirmar la presencia de elementos específicos mediante el uso de una sonda puntual o un espectrómetro en un microscopio electrónico de barrido para obtener el espectro de rayos X dentro de un volumen específico de la muestra (escala μm).

ISO 17470:2004 Historia

  • 2014 ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • 2004 ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Temas especiales sobre estándares y normas

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estándares y especificaciones

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