DIN EN 62149-2:2010 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 2: Dispositivos láser emisores de superficie de cavidad vertical discreta de 850 nm (IEC 62149-2:2009); Versión alemana EN 62149-2:2009
Esta parte de IEC 62149 cubre la especificación de perforación para dispositivos láser de emisión de superficie de cavidad vertical discreta (VCSEL) de 850 nm de tipos multimodo transversales utilizados para aplicaciones de transmisión de datos ópticos y telecomunicaciones por fibra óptica. El estándar de desempeño contiene una definición de los requisitos de desempeño del producto junto con una serie de conjuntos de pruebas y mediciones con condiciones, severidades y criterios de aprobación/rechazo claramente definidos. Las pruebas están destinadas a realizarse "una sola vez" para demostrar la capacidad de cualquier producto para satisfacer los requisitos de la norma de rendimiento.
DIN EN 62149-2:2010 Documento de referencia
IEC 60749 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
IEC 60825 Seguridad de los productos láser: TODAS LAS PARTES*, 2023-05-25 Actualizar
IEC 60950-1 Equipos de tecnología de la información - Seguridad - Parte 1: Requisitos generales*, 2023-11-09 Actualizar
IEC 61300-2-4 Enmienda 1 - Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Parte 2-4: Pruebas - Retención de fibra o cable*, 2020-01-01 Actualizar
DIN EN 62149-2:2010 Historia
2015DIN EN 62149-2:2015 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 2: Dispositivos láser emisores de superficie de cavidad vertical discreta de 850 nm (IEC 62149-2:2014); Versión alemana EN 62149-2:2014
2010DIN EN 62149-2:2010 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 2: Dispositivos láser emisores de superficie de cavidad vertical discreta de 850 nm (IEC 62149-2:2009); Versión alemana EN 62149-2:2009