BS ISO 16700:2004
Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

Estándar No.

BS ISO 16700:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2016-07

Remplazado por

BS ISO 16700:2016

Ultima versión

BS ISO 16700:2016

Reemplazar

00/124017 DC:2000

Alcance

Esta norma internacional especifica un método para calibrar la ampliación de imágenes generadas por un microscopio electrónico de barrido (SEM) utilizando un material de referencia apropiado. Este método se limita a aumentos determinados por el rango de tamaño disponible de las estructuras en el material de referencia de calibración. Esta norma internacional no se aplica al SEM dedicado a la medición de dimensiones críticas.

BS ISO 16700:2004 Historia

• 2016 BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
• 2004 BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes