Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento. son: Equipo óptico, Química analítica, Metrología y medición en general., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Vocabularios, Optoelectrónica. Equipo láser, Educación, pruebas de metales, Óptica y medidas ópticas., Calidad del aire.

British Standards Institution (BSI), Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

BS ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
24/30479937 DC BS ISO 25498 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS ISO 19214:2024 Análisis de microhaz. Microscopio electrónico analítico. Método de determinación de la dirección aparente de crecimiento de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
24/30474499 DC BS ISO 19214 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
BS ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO/DIS 25498:2024 Análisis de microhaces-Microscopía electrónica analítica-Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 19214:2024 Análisis de microhaz — Microscopía electrónica analítica — Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.

GSO, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

OS GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BH GSO ISO 25498:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
OS GSO ISO 29301:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BH GSO ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BH GSO ISO 15932:2017 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
OS GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO 29301:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
GSO ISO 13095:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
GSO ISO 24639:2024 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

T/CSP 13-2024 Tecnología de partículas: análisis de heteroestructuras submicrónicas y nanométricas: microscopía electrónica de transmisión
T/BSPT 6-2024 Tecnología de partículas: análisis de heteroestructuras submicrónicas y nanométricas: microscopía electrónica de transmisión

Association Francaise de Normalisation, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
NF X21-016*NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
X11-660:1983 Análisis del tamaño de partículas mediante el método del microscopio óptico. Indicaciones generales sobre microscopio.
NF X11-660:1983 Tamaño de partícula - Análisis del tamaño de partícula mediante microscopía óptica - Información general sobre el microscopio.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM D5755-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
ASTM D5755-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
ASTM D5755-03 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09(2014)e1 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2-2021 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D ISO 23833-2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario

SCC, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
12/30245653 DC BS ISO 15932. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
09/30179503 DC BS ISO 29301. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de transmisión analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que proporcionen un patrón de difracción periódico.
08/30138435 DC BS ISO 24597. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para la evaluación de la nitidez de la imagen.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 34002-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de transmisión analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.
GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
GB/T 19864.2-2013 Microscopios estereoscópicos.Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
GB/T 19864.2-2005 Microscopios estereoscópicos.Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.

Professional Standard - Education, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

工业和信息化部, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión

国家能源局, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Petroleum, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión
GB/T 40300-2021 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica analítica—Vocabulario
GB/T 21636-2021 Análisis de microhaz—Microanálisis con sonda electrónica (EPMA)—Vocabulario

Gosstandart of Russia, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

GOST R 70626-2023 Óptica y fotónica. Microscopios. Elementos estructurales básicos. Dimensiones

Professional Standard - Machinery, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

IT-UNI, Análisis estructural por microscopía electrónica de alto aumento.

UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.