BS EN 60749-15:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes

Estándar No.

BS EN 60749-15:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-15:2011

Reemplazar

BS EN 60749-15:2003

BS EN 60749-15:2011 Historia

• 2011 BS EN 60749-15:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes
• 2011 BS EN 60749-15:2010 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes
• 2003 BS EN 60749-15:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes