NF X06-022-5*NF ISO 2859-5:2005 Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 5: sistema de planes de muestreo secuenciales indexados por el límite de calidad de aceptación (AQL) para la inspección lote por lote.
Este estándar proporciona un marco para la aplicación de planes de muestreo en lotes, basados en el límite de calidad aceptable (AQL). Se describe un sistema de muestreo por lotes que permite la selección de planes de muestreo según el nivel de calidad deseado. El documento establece procedimientos para la determinación de los tamaños de muestra y los criterios de aceptación, facilitando la implementación de controles de calidad eficaces. Además, incluye tablas y métodos para la consulta de los planes de muestreo, garantizando una aplicación uniforme y consistente. El estándar se enfoca en la organización de los procesos de inspección y la toma de decisiones basadas en la calidad del producto.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
NF X06-022-5*NF ISO 2859-5:2005 Historia
2005NF X06-022-5*NF ISO 2859-5:2005 Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 5: sistema de planes de muestreo secuenciales indexados por el límite de calidad de aceptación (AQL) para la inspección lote por lote.
0000 NF X06-022-5:2005
1993NF X06-024:1993 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.